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半导体测试分选编带设备

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IC Test handler

查看:194

时间:2020-09-02

设备型号:ZX300

适用芯片:SOT、SOD、TO、SOP、QFN、DFN



    ZX300测试分选编带一体机


•  一款全全自动半导体器件测试,分选,打标,视觉检测,分类,编带包装设备。

采用16位循环交换转塔式结构,集成各种功能为一体;使其获得一系列优异性能。

•  性能已达到国际一流水准,是一款高性价比测试分选设备。

UPH 50K以上测试时间<30ms/时。

MTBF平均故障时间 > 220/H

MTBA 平均报警间隔 > 120/min

MTTA ≤2分钟。


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